Florent Loete & Pierrick Legrand développent une méthode sans contact et non destructive pour mesurer la qualité électronique d’une large gamme de semi-conducteurs à haute résolution au sein du domaine de la micro-électronique et du photovoltaïque, afin de répondre à l’intérêt validé par les industriels.
L'objectif est d'évaluer la qualité de ces matériaux sans les toucher, ni les endommager, ce qui permet d'obtenir des résultats précis pour une grande variété de semi-conducteurs de haute qualité.
Où en sont-ils dans l’avancement de leur projet ?
- Brevet (FR, US, EU) existant
- Dépôt d’un second brevet
- Prototype d’instrument de mesure
- Vente d’instruments de mesure
- Vente de solutions de mesure de dégradation sur panneaux photovoltaïques
Maturité technologique : TRL 7
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